Systém skenovacího elektronového mikroskopu

12. 1. 2018

  • Země: Nizozemsko
  • Datum publikování: 12.01.2018
  • Datum uzávěrky: 26.02.2018 13:00
  • Referenční číslo: TE201800107
  • Stav tendru: vypsaný tendr
Průmyslové obory:
  • Elektronika a elektrotechnika

Anotace:

Cílem zadávacího řízení je uzavřít smlouvu na dodávku skenovacího elektronového mikroskopu (PFIB/SEM)

Popis tendru, projektu:

Cílem zadávacího řízení je uzavřít smlouvu s jedním dodavatelem na dodávku systému zaměřeného na plazmový iontový paprsek / skenovací elektronový mikroskop (PFIB / SEM) na oddělení materiálové vědy a inženýrství (MSE) fakulty 3mE Delft University of Technology (TU Delft).

Popis tendru, projektu v cizím jazyce:

The objective of the public procurement procedure is to award the contract to one (1) supplier for the
delivery of a Plasma Focussed Ion Beam / Scanning Electron Microscope (PFIB/SEM) system to the department of Materials Science and Engineering (MSE) of the faculty 3mE of Delft University of Technology (TU Delft).

Kontaktní informace:

Souborové přílohy

Tisknout Vaše hodnocení: